質量好壞的性能檢測如何操作?可控矽質量好壞的判別可以從(cong) 四個(ge) 方麵進行。第一是三個(ge) PN結應完好;第二是當陰極和陽極間電壓反向連接時能夠阻斷,不導通;第三是當控製極開路時,陽極和陰極間的電壓正向連接時也不導通;第四是給控製極加上正向電流,給陰極和陽極加正向電壓時,可控矽應當導通,把控製極電流去掉,仍處於(yu) 導通狀態。
用萬(wan) 用表的歐姆擋測量可控矽的極間電阻,就可對前三個(ge) 方麵的好壞進行判斷。具體(ti) 方法是:用R×1k或R×10k擋測陰極和陽極之間的正反向電阻(控製極不接電壓),此兩(liang) 個(ge) 阻值均應很大。電阻值越大,表明正反向漏電電流愈小。如果測得的阻值很低,或近於(yu) 無窮大,說明可控矽已經擊穿短路或已經開路,此可控矽不能使用了。
用R×1k或R×10k擋測陽極和控製極之間的電阻,正反向測量阻值均應幾百千歐以上。
用R×1k或R×100擋,測控製極和陰極之間的PN結的正反向電阻在幾千歐左右,如出現正向阻值接近於(yu) 零值或為(wei) 無窮大,表明控製極和陰極之間的PN結已經損壞。反向阻值應很大,但不能為(wei) 無窮大。正常情況是反向阻值明顯大於(yu) 正向阻值。
萬(wan) 用表選電阻R×1擋,將黑表筆接陽極,紅表筆仍接陰極,此時萬(wan) 用表指針應不動。紅表筆接陰極不動,黑表筆在不脫開陽極的同時用表筆尖去瞬間短接控製極,此時萬(wan) 用表電阻擋指針應向右偏轉,阻值讀數為(wei) 10歐姆左右。如陽極接黑表筆,陰極接紅表筆時,萬(wan) 用表指針發生偏轉,說明該华体会竞猜app已擊穿損壞。
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